| Référence | SN74BCT8373ANT |
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| Fabricant | Texas Instruments |
| Description | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP |
| Fiche technique | |
| paquet | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| ECAD |
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| En stock | 5 424 piece(s) |
| Prix unitaire | $ 5,2811 * |
| Délai de mise en œuvre | VÊtre confirmé |
| Temps de livraison estimé | nov. 24 - nov. 29 (Choisissez l'expédition accélérée) |
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| Méthodes de paiement | |
| Services de livraison |
| Fabricant | Texas Instruments |
| Catégorie | Circuits intégrés (CI) - Logique - Logique spécialisée |
| paquet | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| ECAD |
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| Séries | 74BCT |
| Type de logique | Scan Test Device with D-Type Latches |
| Tension d'alimentation | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Nombre de bits | 8 |
| Température de fonctionnement | 0°C ~ 70°C |
| Type de montage | Through Hole |
| Paquet / cas | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Package de périphérique fournisseur | 24-PDIP |
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SIT9002AC-28N25DX | SiTime, OSC PROG LVDS 2.5V 25PPM SMD, 6-SMD, No Lead, 74BCT | Vue |
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SIT1602AIA33-33E-25.000000Y | SiTime, OSC XO 3.3V 25MHZ OE, 4-SMD, No Lead, 74BCT | Vue |
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SN74ALS38BD | Texas Instruments, IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC, 14-SOIC (0.154", 3.90mm Width), 74BCT | Vue |
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ATT-0290-13-SMA-02 | Cinch Connectivity Solutions Midwest Microwave, ATTENUATOR 13 DB DC 18GHZ, SMA In-Line Module, 74BCT | Vue |
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RG1005P-2370-P-T1 | Susumu, RES SMD 237 OHM 0.02% 1/16W 0402, 0402 (1005 Metric), 74BCT | Vue |
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KY1101510000G | Amphenol Anytek, 500 TB WIR PRO 90D SQU, -, 74BCT | Vue |
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2-382882-1 | TE Connectivity AMP Connectors, CONN IC DIP SOCKET 6POS TIN, -, 74BCT | Vue |
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HDWM-18-56-G-S-375-SM | Samtec Inc., .050" BOARD SPACERS, -, 74BCT | Vue |
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BACC45FN8-3P8H | Cinch Connectivity Solutions, CONN RCPT HSNG MALE 3POS PNL MT, -, 74BCT | Vue |
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REM6-2424S/A/CTRL | Recom Power, CONV DC/DC 6W 18-36VIN 24VOUT, 24-DIP Module, 6 Leads, 74BCT | Vue |
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SI5340D-D10558-GMR | Silicon Labs, IC CLOCK GENERATOR PLL 44QFN, -, 74BCT | Vue |
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XC6129C15FNR-G | Torex Semiconductor Ltd, VOLTAGE DETECTOR WITH DELAY TIME, -, 74BCT | Vue |
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| Référence | Fabricant | Description | Stock |
SN74BCT8373ANT |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP |
60 |
| Référence | Fabricant | Description | Stock |
SN74BCT8373ANT D# 2156-SN74BCT8373ANT-TI-ND |
Rochester Electronics LLC |
BUS DRIVER |
2169 |
| Référence | Fabricant | Description | Stock |
SN74BCT8373ANT |
Rochester Electronics LLC |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
2581 |
| Référence | Fabricant | Description | Stock |
SN74BCT8373ANT |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
277 |
SN74BCT8373ANTE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
675 |
| Référence | Fabricant | Description | Stock |
SN74BCT8373ANT D# NS-SN74BCT8373ANT |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
6483 |
SN74BCT8373ANTE4 D# NS-SN74BCT8373ANTE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
9176 |
| Référence | Fabricant | Description | Stock |
SN74BCT8373ANT |
Texas Instruments |
Boundary Scan Bus Driver, BCT/FBT Series, 1-Func, 8-Bit, True Output, BICMOS, PDIP24 RoHS: Compliant
|
2169 |
| Référence | Fabricant | Description | Stock |
SN74BCT8373ANT |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1553 |
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